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一周新品推荐:ADI小型化数字式可调滤波器和Molex公司WiFi/蓝牙外置天线

本期Digi-Key Daily向大家推介两款产品——ADI公司ADMV8818数字式可调滤波器和Molex公司Wi-Fi/蓝牙外置天线。

产品一:ADI的ADMV8818数字式可调滤波器

数字可调滤波器可以作为大型开关滤波器组和腔调谐滤波器的外形更为小巧、紧凑的替代品,在航空航天、国防等高级通信应用中提供工作频率动态可调的解决方案。

ADI的ADMV8818是一款完全单片微波集成电路 (MMIC),具有四个独立控制的高通滤波器 (HPF) 和四个独立控制的低通滤波器 (LPF),工作频率在2GHz至18GHz的范围内,可以使用4线串行端口接口 (SPI) 进行编程设定。

ADMV8818中每个滤波器的控制器为4位宽,提供16个状态来调整其3dB截止频率,产生高达4GHz的带宽。与其他基于变容管的解决方案相比,该器件使用的数字开关电容提供了改进的滤波器线性度和频率响应。其典型的插入损耗为3dB,宽带抑制为3dB,可以使系统谐波最小化。

了解懂ADI的ADMV8818数字式可调滤波器的更多信息,请看以下视频:

产品二:Molex公司Wi-Fi/蓝牙外置天线

无论是物联网、联网的家庭设备,还是电信、基础设施,以及网联商用车辆,实现无线连接时,出色的高频性能和可靠性的天线必不可少。Molex公司提供的2.4GHz、5GHz和6GHz Wi-Fi和蓝牙天线,就可以适用于上述这些广泛的应用场景。

Molex的系列Wi-Fi和蓝牙外置天线既包括不同的形状和尺寸,还包括各种安装选项和连接器类型,比如SMA、U.FL、FAKRA和N-type等;不同的料号可提供单频、双频,甚至是三频选项,能够覆盖所有Wi-Fi频率,包括新的6GHz频段。

所有这些天线的工作温度为-40℃至85℃,是物联网时代无线互连应用的理想解决方案。

了解Molex公司Wi-Fi/蓝牙外置天线更多信息,请看以下视频:


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运算放大器输出电压反向问题:正确选型,轻松化解!


关键词: 放大器, 工作原理

问:运算放大器输出电压反相

有时,当超过输入共模电压时,你可能会遇到运算放大器输出问题,这被称为输出反相。

当运算放大器的其中一个内部级不再具有足够的偏置电压并因此关闭时,通常会出现这种情况。这将导致输出电压摆幅到相反的供电轨上,直至输入返回到共模范围,如下所示(在电压跟随器中)。请注意,输入仍可位于电源电压轨中,但只能高于或低于某个指定共模限值。


当运算放大器配置为单位增益电压跟随器时,经常会发生反相情况。在反相模式下,反相不是大问题,因为两个输入都是恒定且接地的(或在某些单电源应用中处于中压电源)。

为避免反相,在设计电路之前,应注意规格书上的任何注释。有些会标记在“关键特性”表中,但未必会包含在规格表中。例如,Analog Devices的AD8625、AD8626和AD8627运算放大器的规格书中(如下所示)显示了“主要特性”和“绝对最大额定值”。采用+5V单电源供电时,这些运算放大器的输入电压范围为0V至+3V(最大值)。因此,其规格书标记“无反相”意味着,输出在+3V至+5V的共模范围内不会出现反相。



更多关于运放的技术信息, 请查看:



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串联使用风扇,能让排风量翻番吗?真实的情况是______


关键词: 风扇, 工作原理

问:堆叠风扇会使CFM翻倍吗?

这个想法似乎很简单——如果需要更多的空气通过某个单元,那就在第一个风扇上再堆一个风扇来增加气流——但这样真的行得通吗?本文将回答我们收到的一个常见问题:堆叠风扇会使CFM(立方英尺/分钟)翻倍吗?

简而言之,堆叠2个(或更多)风扇并不会使气流翻倍。以下几个原则可以解释原因:

  • 相同量的空气从第一个风扇流向所有后续的风扇,空气以大约45度角离开第一个风扇的叶片,这会增加任何额外风扇进气侧的湍流。
  • 堆叠风扇增加了静压,这可能会在较为封闭的系统(如电脑机箱)中造成一定的问题。形成的高压将使风扇更加难以对抗这种使空气穿过风扇的压力——可通过移除面板/增加箱体开口来最小化此压力。
  • 要应对堆叠风扇的一些湍流,你必须将顺时针旋转风扇和逆时针旋转风扇(如逆时针旋转风扇EBM Papst 700F系列)搭配使用;请注意,由此产生的性能效益各不相同,通常不超过20-30%。

综上所述,将风扇直接堆叠通常会增加湍流、静压和成本,但对CFM和冷却并没有起到显著积极的影响。

提高CFM的方法包括:

  • 购买一个CFM更高的风扇
  • 将两台风扇并排放置,它们应该能推动大约两倍于单个风扇额定的空气量。

一般情况下,两个风扇串联(一个放置在另一个后面)会使静压增加近一倍,但不会显著增加低阻抗气流系统中的气流。在高阻抗气流系统中,两个风扇并联(并排放置)将使气流量提高一倍,但不会提高更多。

然而,在具有高系统气流阻抗(最小排气量、多个障碍物、挡板等)的封闭系统中,两个串联风扇产生的较高静压可以增加相对于单个风扇的空气量。


更多关于风扇的技术信息, 请查看:



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EV电动汽车中,SiC和GaN功率器件为何能够唱主角?原因在此

作者:Murray Slovick


关键词: 工作原理, 电源管理, 汽车

如今,越来越多的汽车制造商涉足电动汽车 (EV) 开发,但是电动汽车的驾程过短却始终是个问题。尽管采用空气动力学设计、更轻质的材料、更高效的功耗等方法确有成效,但这还远远不够。汽车电力电子设计人员还需要使用先进的宽带隙半导体 (WBG) 材料来满足能效和功率密度要求。

这些材料主要由氮化镓 (GaN) 和碳化硅 (SiC) 组成,是对硅 (Si) 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 和绝缘栅双极晶体管 (IGBT) 等现有半导体技术的改进。因而,由这些材料制成的半导体损耗更低、开关频率更快、工作温度更高、击穿电压更高,并且在恶劣环境中更坚固耐用。随着汽车行业转向使用容量更高、充电时间更短、总损耗更低,并且可在高电压下工作的电池,WBG材料变得尤其有用。

本文将简要概述WBG技术及其在汽车EV电子领域发挥的作用。此外,还将介绍由ROHM Semiconductor、STMicroelectronics、Transphorm和Infineon Technologies推出的GaN和SiC适宜解决方案,并对其应用予以指导。


WBG半导体的优势

先来回顾一下,带隙是将电子从材料的价带激发跃迁至导带所需的能量,而WBG材料的带隙明显宽于硅(图1)。Si的带隙为1.1eV,而SiC的带隙为3.3eV,GaN则为 .4eV。


图1:Si半导体导带和价带之间的带隙比SiC和GaN窄,因此后两者才获得“宽带隙半导体”的命名。(图片来源:STMicroelectronics)


相比传统硅半导体,WBG半导体器件可在更高的电压、频率和温度下工作。更重要的是,开关和传导损耗都更低。WBG材料的导通和开关特性约为Si材料的十倍。这些能力促成了WBG技术与电力电子技术的天作之合,特别适用于EV界,原因在于SiC和GaN元器件的尺寸更小、响应更快、能效更高。

然而,WBG器件虽优势尽显,设计人员却不得不将其与制造的复杂性和大批量生产的高成本进行利弊权衡。尽管WBG元器件的初期成本可能更高昂,但其整体呈下降趋势,并且通常可降低系统总成本。例如,在EV中使用SiC器件可能会额外增加数百美元的前期成本,但由于电池成本和空间要求的降低以及冷却措施的简化(如采用小型散热器或对流冷却),最终降低了总成本。

SiC应用于主逆变器

在EV中控制牵引电机的牵引逆变器是EV关键系统受益于WBG元器件的范例。逆变器的核心功能是将直流电压转换为三相交流波形以驱动EV电机,然后将再生制动产生的交流电压转换回直流电压来为电池充电。由于逆变器将存储在电池组中的能量转换为交流以驱动电机,因而能量转换损失越低,系统能效越高。与硅相比,SiC器件的电导率更大、开关频率更快,从而功耗更低,因为以热量形式损失的能量更少。最终,SiC逆变器能效更高,从而体现为EV的里程更远。

大电流功率模块通常采用IGBT类型,将Si IGBT与Si快速恢复二极管 (FRD) 相结合,是汽车逆变器模块的常用配置。然而,与现有的Si IGBT器件相比,SiC器件的工作温度更高、开关速度更快。这些功能无疑使其成为是牵引逆变器的最佳选择,因为牵引逆变器需要传输大量能量流入和流出电池。

原因如下:由于IGBT是开关元件,开关速度(导通时间、关断时间)是影响能效(损耗)的关键参数之一。对于IGBT而言,可实现高击穿电压下的低电阻却得以牺牲开关性能为代价;器件关断期间存在“耗散时间”,而这会增加开关损耗。因此IGBT的能效相对较低。若逆变器模块用MOSFET替代IGBT,则可以实现更高的能效,因为MOSFET的关断时间更短、工作频率更高。然而,Si MOSFET也存在问题,其“导通”电阻大于Si IGBT。

SiC MOSFET则充分利用了SiC的有利特性,芯片尺寸几乎只有IGBT的一半,同时具备电源开关的四个理想特性:

  • 高电压
  • 低导通电阻
  • 开关速度快
  • 低开关损耗(特别是关断损耗)

此外,带隙更宽意味着SiC器件一般工作温度范围为150℃至175℃,若封装恰当即可达到200℃或更高。

对于SiC肖特基势垒二极管 (SBD),在SiC SBD中会利用SiC半导体-金属结形成肖特基势垒。但与硅FRD不同,在电流和工作温度范围较宽的情况下,SiC SBD的优势也不会发生显着变化。另外SiC元器件的介电击穿场也是硅器件的十倍。因此,目前额定电压1200V的SiC产品正投入大规模生产,成本相应下降。此外,额定电压1700V的产品正在开发中。

SiC二极管也没有正向和反向恢复损耗,只是少量的电容充电损耗。研究表明,SiC SBD的开关损耗比Si快恢复二极管降低90%,后者的结温会影响恢复电流和恢复时间。因此,与Si二极管相比,SiC二极管的品质因数 (FoM) (Qc x Vf) 相当低。FoM较低意味着功耗较低,因而电气性能更出色。

碳化硅材料存在一些缺点。其中之一便是热系数为正值,即温度越高,正向电压 (Vf) 越高。通过二极管的电流越大,正向电压也就越大。二极管承受大电流时,这种传导损耗会导致热击穿。

然而,结合SiC MOSFET与SBD使系统设计人员能够提高能效,降低散热器的尺寸和成本,提高开关频率以减小磁性元件尺寸,从而降低最终设计成本,缩减尺寸和重量。相比Si基器件,使用SiC器件的EV逆变器可以小5倍、轻3倍,功耗降低50%。

例如,ROHM Semiconductor开发的BSM300D12P2E001半桥SiC功率模块,将SiC MOSFET与SiC SBD集成封装,最大限度地降低了先前由IGBT尾电流和FRD恢复损耗引起的开关损耗(图2)。


图2:与IGBT模块相比,集成SiC MOSFET和SBD的全SiC功率模块损耗更低,即使高速开关操作亦是如此。(图片来源:ROHM Semiconductor)


与IGBT相比,ROHM Semiconductor的SiC基MOSFET损耗明显降低了73%。该公司推出的MOSFET系列耐压高达1700V,导通电阻范围为45mΩ至1150mΩ,采用TO-247N、TO-3PFM、TO-268-L和TO-220封装。

此外,ROHM推出的SiC肖特基势垒二极管通过了AEC-Q101汽车级标准鉴定。该器件恢复时间短、开关速度快、温度依赖性小、正向电压低,可耐压650 V,电流范围为6至20A。

SiC器件在EV应用中发挥的作用

作为首家主逆变器集成全SiC功率模块的电动汽车制造商,特斯拉 (Tesla) 在特斯拉3型轿车中采用了这项技术。S型和X型等此前特斯拉车型,均采用TO-247封装的IGBT。特斯拉与STMicroelectronics合作,将SiC功率模块组装在逆变器的散热器上。与STMicroelectronics的SCT10N120 一样,这款MOSFET额定电压为650V,采用铜基板进行散热。

EV的充电设备在工厂已安装就绪,称为“车载充电器”(OBC)。通过家中或个人/公共充电站的插座,EV或插电式混合动力EV (PHEV) 的OBC即可利用交流电源为电池充电。OBC使用AC/DC转换器将50/60Hz的交流电压(100至240V)转换为直流电压,为高压牵引电池充电(通常约为400V直流电)。此外,还可根据电池要求调整直流电平,提供电流隔离和AC/DC功率因数校正 (PFC)(图3)。


图3:例如典型EV OBC应用中,SiC二极管可作为升压二极管用于PFC级,或与N沟道IGBT并联构成图腾柱PFC。(图片来源:Infineon Technologies)

GaN凭借高能效广受青睐

OBC的设计要求最大限度地提高能效和可靠性以确保快速充电,同时满足EV制造商对空间和重量的限制要求。使用GaN技术的OBC设计可以简化EV冷却系统,缩短充电时间,降低功耗。在汽车市场份额方面,商用GaN功率器件较SiC器件略微逊色,而如今却凭借其出色的性能而迅速抢滩。与SiC器件一样,GaN器件的开关损耗更低、开关速度更快、功率密度更高,并且能够缩减系统尺寸和重量,降低总成本。

例如,Transphorm的TP65H035WSQA通过了AEC-Q101汽车级标准鉴定。这款GaN FET在鉴定测试时的温度高达175℃(图4)。该器件采用标准TO-247封装,导通电阻典型值为35mΩ。与其前代产品49mΩ的第II代TPH3205WSBQA一样,该器件适用于插电式混合动力电动汽车和电池EV的AC/DC OBC、DC/DC转换器和DC/AC逆变器系统,进而实现AC/DC图腾柱无桥PFC设计。


图4:Transphorm的TPH3205WSBQA 650V、49mΩ GaN FET通过了汽车级标准鉴定和汽车级分立式半导体器件的AEC-Q101压力测试。(图片来源:Transphorm)


虽然Si MOSFET的最大额定dV/dt典型值为50V/ns,但TP65H035WS GaN FET的切换dV/dt为100V/ns或更高,从而最大限度地降低开关损耗。在这种情况下,甚至连布局也会严重影响系统性能。布局时,推荐最大限度地简化栅极驱动回路,缩短开关节点之间的印制线长度,以实用的最短返回走线将电源总线接地。电源接地平面的横截面积要大,从而实现整个电路的接地电位均匀。布局时务必将电源地和 IC(小信号)地分开,两者仅在FET的源极引脚连接,以此避免任何可能的接地回路。

Infineon的AIDW20S65C5XKSA1是该公司第五代CoolSiC汽车肖特基二极管系列产品之一,同样是为混合动力和电动汽车的OBC应用而开发,是该公司IGBT和CoolMOS产品系列的补充,可满足650V级汽车应用的要求。

得益于全新的钝化层概念,此产品成为市场上最耐用的汽车器件之一,具有耐湿性和耐腐蚀性。该器件基于110μm薄晶圆技术,因此在同类产品中FoM表现突出,这体现为更低的功耗,从而实现更出色的电气性能。

与传统的Si FRD相比,Infineon的CoolSiC汽车肖特基二极管在所有负载条件下均可将 OBC 能效提高一个百分点。

使用SiC和GaN器件

除了上述的精心布局外,SiC元器件的另一个潜在问题在于驱动要求与IGBT器件截然不同。虽然大多数晶体管的驱动通常使用对称电源轨(如±5V),但SiC器件需要较小的负电压以确保完全关断,因此需要不对称的电源轨(如-1V至-20V)。

此外,虽然SiC具有出色的散热特性,与硅相比导热特性亦出类拔萃,但是SiC元器件常使用为Si器件设计的封装,例如芯片键合和引线键合。虽然这种封装方法与SiC配合良好,但仅适用于低频电路(数十千赫)。一旦应用于高频电路,寄生电容和电感就会相应增大,从而阻碍基于SiC器件充分发挥全部潜力。

同样,要充分利用GaN器件的优势,封装就必须具有极低的寄生电感和出色的热性能。嵌入式芯片封装(类似于多层印刷电路板)等全新封装方法,以低成本实现了所需的性能,同时还消除了引线键合以避免器件自身的可靠性问题。

栅极驱动器这一关键元件主要用作控制器与功率器件之间的接口。对于采用新器件的电子设计人员而言,栅极驱动设计始终是个难题,因此了解SiC和GaN功率器件的驱动方式就显得尤为重要。具体要求是:

  • 供电电压高,通过低传导损耗实现高能效
  • 驱动强度高,实现低开关损耗
  • 快速短路保护
  • 传播延迟和变化较小,实现高能效和快速系统控制
  • dv/dt抗扰度高

部分早期的GaN器件需要特殊的驱动器来防止栅极过压。目前市面上推出具有大Vg容差的新一代E-HEMT,只需改变栅极电压,即可由许多标准MOSFET驱动器来驱动。GaN FET是横向器件,因此所需的最佳驱动电压相对较低。总而言之,GaN器件的栅极驱动要求与Si MOSFET和IGBT类似。具体要求包括:

  • 栅极电荷较低 – 驱动损耗较低,上升和下降时间较短
  • 栅极电压较低
  • 负电压以提高栅极驱动的稳健性
  • 使用栅极电阻以控制压摆率

其优势在于,许多SiC和GaN解决方案供应商都在封装内添加了其他电子元件,因此可以直接替代当前的设计。

总结

为了满足逆变器和车载充电器等EV系统的能效和功率密度要求,汽车电力电子设计人员现在可以使用更先进的WBG半导体,如SiC和GaN。与传统硅器件相比,WBG半导体的损耗更低、开关频率更快、工作温度更高、击穿电压更高,并且在恶劣环境中更坚固耐用。

GaN和SiC可在更高的温度下工作,预期使用寿命却与Si器件无异;或是在同等温度下工作,使用寿命却更长。这为设计工程师提供了不同的设计方案,具体取决于应用要求。

此外,使用WBG材料让设计人员能够从多种策略中选择适合设计目标的方案:使用相同的开关频率,提高输出功率;使用相同的开关频率,降低系统的散热要求和总成本;或者提高开关频率,但保持相同的开关功耗。

参考资料

“Tesla Model 3 Inverter with SiC Power Module from STMicroelectronics, Complete Teardown Report(采用STMicroelectronics SiC功率模块的特斯拉3型逆变器完全拆解报告)”(Research And Markets)。


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仪器是否需要校准,到底谁说了算?


关键词: 质量, 测量

问:校准的频次怎样设定比较合适?

对于校准仪器的具体频次并没有通用的标准答案,因为被校准的仪器、环境和应用可能常常会在不同的条件下发生变化。测试仪器厂商提供了针对典型条件下的校准间隔建议,通常极端条件和非常关键的测量可能需要进行更频繁的校准。

以下是一些通用的校准的场景:

  1. 根据客户合同、质量标准组织、军用规范或其他行业要求进行例行校准。在测试之前,需要检查适用的要求,以确保满足测试设备的校准或认证要求。
  2. 主体工程测量前后。例如,当新产品试生产完毕时,设计工程师会对产品进行特性化,以确保其符合规范,并优化测试流程。在这一步中所做的最终测试调整可以大大减少测试时间并影响盈利能力。完整可靠的测试要求在测试期前后对仪器的状态进行验证。
  3. 当你怀疑存在测量误差或仪器过载或掉落时。检查校准和安全保真度非常重要(例如,测量值可能会因测试设备中的一根电线短路而降低)。

准确的校准并非不必要的奢侈品,它能保证测试设备的可靠性,甚至人员的安全性。例如,在操作一台设备之前,可能有必要测量仪表的电压以确保安全。如果仪表损坏或显示的信息有误,可能会造成人身伤害或死亡。此外,校准还可以确保质量。它能够保证准确的测试结果,而这是验证产品在最终测试和发运给客户时符合规格的必要元素。


要了解更多有关校准的技术信息,请查看以下相关内容:



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消除VCR电阻电压系数影响,你该怎么做?


关键词: 电阻, 工作原理

问:电阻电压系数(VCR)的影响

什么是电阻电压系数?本文就来回答这个问题。

VCR(电阻电压系数)定义为电阻在特定的电压变化范围内发生的变化。这意味着电阻值在不同电压下的稳定性。你(包括我自己)可能并没有意识到VCR的存在,但每个电阻在加载电压时都存在某种程度的不稳定性。对于电压电平稳定或可调节且可预测的应用而言,VCR不是问题。但对于电力输送系统或测试设备等其他应用而言,电压的变化会导致电阻发生不可接受的变化。

那么应该如何最大程度地减少VCR的影响呢?

选择正确的电阻并了解影响VCR的因素,可将VCR降至最低。与采用直写工艺的电阻相比,采用标准厚膜沉积工艺的电阻的VCR更差。这是受改善的电阻精度以及减少的边缘的影响。实际上,较大尺寸的电阻具有较好的VCR,因为可以使用欧姆值较低的材料来实现高阻值。以下示例中展示了不同外壳尺寸Stackpole的UHV系列片式电阻的典型VCR。

在制造电阻时,常用激光或机械修整工艺将电阻值调整到规定的公差范围内。其电阻公差通常在1%左右或以下。然而,在制造过程中,修整电阻元件可能会对电阻的VCR产生不利影响。对于厚膜片式电阻而言,对电阻元件执行此类校准修整会产生微裂纹,因为在修整后厚膜材料将会冷却。这种微裂纹会导致寄生阻抗变化、电噪声提高和VCR增加。


更多与电阻相关的技术信息, 请查看:



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话说ADC之五 | SAR ADC输入驱动难题,如何求解?


关键词: 信号, 工作原理

模拟基础知识 – 第 5 部分:处理 SAR ADC 输入驱动难题

编者注:
模数转换器 (ADC) 将模拟世界与数字世界连接,因此是连接现实世界中任何电子系统的基本组件。它们也是决定系统性能的关键因素。本系列文章探讨ADC的基础知识及其类型、应用。在本系列模拟基础知识中:

第1部分讨论了SAR ADC。
第2部分讨论三角积分转换器。
第3部分探讨流水线ADC。
第4部分介绍三角积分ADC如何生成超低噪声结果。
本文为第5部分,我们将探讨SAR ADC的输入驱动难题。

许多数据采集、工业控制和仪表应用都需要超高速模数转换器 (ADC),而逐次逼近寄存器 (SAR) 转换器则能完全满足这一要求。然而,我们必须确保SAR转换器周围的外部电路也能胜任这一任务,才能确保成功的转换结果。对于SAR转换器来说,需要特别注意的关键端子是其模拟信号输入端——如果不加以重视,这些输入引脚会产生稳定性问题和电容电荷”反冲”,从而导致转换不准确并延长信号采集时间。

在SAR转换器应用中,精确控制输入信号的解决方案在于运算放大器(运放)的驱动。如搭配适当的输出电阻和电容值,这些器件就是高分辨率、16位和20位SAR转换器系统的高精度稳健解决方案的基础。

本文将简要讨论实现稳定准确的SAR ADC转换的相关问题。然后,介绍一款合适的运放来驱动SAR ADC,并说明如何实现必要的输入驱动电路。我们将以Analog Devices的解决方案为例进行说明。


SAR ADC输入电路

SAR ADC驱动电路具有将ADC与其信号源隔离的运算放大器(A1和A2)(图1)。在该电路中,Rext通过“隔离”放大器的输出级与ADC容性负载(CIN+和CIN-)和Cext隔离来保持稳定。Cext和CREF为ADC提供了一个近乎完美的输入源,可以吸收来自IN+、IN-和REF输入端子的开关电荷注入。输入端子 (IN+, IN-) 在转换器的采集期间跟踪输入信号 (VSIG+, VSIG-) 的电压,为ADC输入采样电容CIN+和CIN-充电。


图1:在该电路中,Rext将Cext与运放输出级“隔离”。Cext和CREF在采样期间为差分SAR ADC提供电荷储备。(图片来源:Digi-Key Electronics)


以Analog Device的AD7915(16位)和AD4021(20位)SAR ADC为例观察ADC内部,可以看到该器件使用了电荷再分配数模转换器 (DAC)。容性DAC有两个相同的二元加权电容阵列。这两个电容阵列连接非反相和反相比较器输入端(图2)。


图2:基于AD7915和AD4021的SAR ADC简化原理图,其中N表示转换器位数。(图片来源:Digi-Key Electronics,在Analog Devices原始资料基础上进行了修改)


在采集阶段,输入端(IN+和IN-)切换到电容阵列。此外,SW+和SW-闭合,将最小有效位 (LSB) 电容与地 (GND) 相连。在这种状态下,电容阵列成为采样电容,采集IN+和IN-模拟信号。采集阶段结束后,控制逻辑(右侧)的CNV输入变为高电平,启动转换阶段。

转换阶段开始时,先断开SW+和SW-,将两个电容阵列切换到GND。在这种配置下,捕获的IN+和IN-差分电压会导致比较器变得不平衡。电荷再分配DAC在GND和RE 之间有条不紊地将电容器阵列的每个元件从最重要的位 (MSB) 切换到 LSB。比较器输入按二元加权电压步长来变化 (VREF/2N-1, VREF/2N-2…VREF/4, VREF/2)。控制逻辑将开关从MSB切换为LSB,使得比较器回到平衡状态。这个过程结束后,ADC返回采集阶段,控制逻辑产生ADC输出代码。

输入电荷注入、电路稳定性和驱动AD7915 ADC

转换过程的关键是获取准确的输入信号电压。当驱动放大器准确地向输入电容器CIN+和CIN-进行充电时,ADC数据转换过程就会顺利进行,同时保持稳定,直至ADC采集时间结束。对设计者来说,问题在于ADC的输入端引入了一个电容 (CIN+, CIN-) 以及需要驱动放大器进行管理的开关噪声或”反冲”电荷注入。

放大电路Bode plot可以快速估算电路稳定性。Bode plot 工具可以近似地描述放大器的开环和系统闭环增益传递函数的大小(图3)。


图3:图1中的放大器开环和闭环传递函数,没有将Rext和Cext作为放大器负载,下面是SAR ADC。(图片来源:Digi-Key Electronics)


y轴量化了放大器电路的开环增益 (AOL) 和闭环增益 (ACL),其中放大器的AOL曲线从130分贝 (dB) 开始,闭环增益ACL等于0dB。沿X轴的单位以对数形式量化了从100赫兹 (Hz) 到1千兆赫兹 (GHz) 的开环和闭环增益频率。

在图3中,放大器在大约220Hz (fO) 时的直流开环增益以 -20dB/十倍频程的速度从130dB下降。随着频率的增加,这种衰减在持续并在大约180兆赫兹 (MHz) 时跨过0dB。由于这条曲线表示单极系统,所以分频器频率fU等于单位增益稳定放大器的增益带宽乘积 (GBWP)。该图代表一个稳定的系统,因为AOL和ACL的截止率是20dB/十倍频程。

加入Rext和Cext以及SAR ADC后,通过创建系统零点和极点来修改放大器电路(图4)。该系统包括一个16位、每秒1兆次 (MSPS) 的AD7915差分PulSAR ADC和一个180MHz、轨至轨输入/输出ADA4807-1放大器,该器件由Analog Devices提供。由于存在30皮法 (pF)(典型值)的ADC输入电容负载,放大器和ADC的组合需要Rext。该电路还需要Cext作为充电筒,在ADC输入端提供足够的电荷,以准确匹配输入电压。


图4:所示为两个ADA4807运算放大器驱动具有两对独立Rext/Cext的AD7915 SAR ADC的Bode图响应。fP1和fZ1转折频率改变了放大器的开环增益,形成稳定的系统响应。fP2和fZ2的转折频率改变了放大器的开环增益,形成了一个略微稳定的响应。
(图片来源:Digi-Key Electronics)


如图4所示,由于电路在初始采集时ADC的电容负载和ADC的开关电荷注入,有可能发生振荡。Rext/Cext放大器输出元件所产生的额外极点和零点保证了系统稳定,所以开环和闭环增益曲线交点大于20dB/十倍频程,使相位裕度小于45°。这种配置与fP2和fZ2一起构成一个不稳定电路。

为避免不稳定,在评估电路中带有Rext和Cext的放大器开环增益曲线时,设计人员需要考虑放大器的开环输出电阻RO的影响。阻值为50欧姆 (W) 的RO与Rext、Cext的组合通过引入一个极点(fP,公式1)和一个零点(fZ,公式2)来修正开环响应曲线。RO、Rext和Cext的值决定了fP的转折频率。Rext和Cext的值决定了零转折频率fZ。


等式 1

等式 2

fP和fZ的计算结果是:

  • fP1 = 842kHz
  • fZ1 = 2.95MHz

其中:

RO = 50W
Rext = 20W
Cext = 2.7纳法拉 (nF)

  • fP2 = 22.7MHz
  • fZ2 = 79.5MHz

其中:

RO = 50W
Rext = 20W
Cext = 0.1nF

上述fP1和fZ1的值使AD7915和ADA4807-1成为一个稳定的系统。

驱动Easy Drive AD4021 SAR ADC

AD7915的替代产品是AD4021 20位1 MSPS Easy Drive SAR转换器。AD4021器件系列将输入反冲和输入电流显著降低至0.5微安 (μA)/MSPS。Easy Drive器件的特点是能降低功耗和信号链复杂性。

AD4021的模拟输入端采用了能够降低典型开关式电容SAR输入非线性电荷反冲的电路。因为减少了反冲并延长了采集阶段,因此可以使用较低带宽、较低功率的驱动放大器(图5)。


图5:AD4021的输入电路和采集时序降低了反冲开关电流,放宽了驱动放大器的严格要求。
(图片来源:Analog Devices)


减少反冲并延长采集时间,也使得输入电阻电容 (RC) 滤波器中的Rext电阻值增大,Cext电容相应减小。这种较小的Cext放大器负载组合提高了稳定性,降低了功耗。

使用单路5伏电源的AD4021的推荐连接图似乎具有类似电路图。但对放大器的要求降低了,Rext/Cext(R和C)的值更小(图6)。


图6:AD4021和ADA4807-1的典型应用图,由单路5伏电源供电,与以上论的AD7915驱动相比,对放大器的要求更低,Rext值更大。(图片来源:Analog Devices)


图6中,基于SAR的AD4021也采用了电荷再分配采样DAC。ADC有一个板载转换时钟和串行时钟。因此,转换过程不需要同步时钟 (SCK) 输入。这种时钟配置可以延长采集时间,通过为输入信号提供更长的时间使其建立至最终值,从而提高精度。

AD7915和AD4021的驱动放大器主要考虑的是噪声,因为放大器/Rext/Cext组合必须从满量程阶跃到16位水平 (0.0015%, 15ppm) 的AD7915,以及20位水平 (0.00001%, 1ppm) 的AD4021。

为了保持AD7915和AD4021的信噪比( SNR) 性能,驱动放大器的噪声必须小于ADC噪声的三分之一。AD4021的噪声为60微伏有效值 (mVrms),这就要求放大器/Rext/Cext组合的噪声小于20mVrms。AD4021的噪声为31.5mVrms,这就要求放大器/Rext/Cext组合的噪声小于10.5mVrms。

Analog Devices的精密ADC驱动器工具可帮助设计人员快速计算出正确的Rext和Cext值。通过选定的驱动器和ADC,该工具可以模拟电路的建立时间、噪声和失真行为。

结语

SAR ADC将继续在超高速数据采集、工业控制和仪器仪表应用中占据主导地位。然而,我们需要考虑这类器件的外部输入电路——驱动放大器和输入滤波器,以适应潜在的开关电荷注入和放大器稳定性问题。

大多数SAR转换器(如AD7916和AD4021)精确控制输入信号的解决方案都依赖运放驱动器,如本示例中的ADA4807-1。如图所示,这类器件在适当的输出电阻和电容值的支持下形成一个坚实的基础,然后在此基础上建立一个高精度、稳健、高分辨率、16位或20位SAR转换器系统。


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RTD温度传感器快速选型要领:总结很全面,建议收藏!

作者:Alan Yang

关键词: 传感器, 规格, 选料


RTD(电阻温度探测器)是一种传感器,其阻值会随着温度的升高而变大,随着温度的降低而减小。RTD器件以其精确性和可重复性而著称,且拥有-200°C至850°C非常宽的工作温度范围,因此在工业自动化、仪器仪表、煤层气和医疗设备等多种不同的终端应用中起着重要作用。

热敏电阻(NTC/PTC)与RTD相似,阻值随着温度变化而变化。热敏电阻通常由聚合物或陶瓷材料制成。而RTD往往用纯金属制成。大多数情况下,热敏电阻比RTD便宜,但精度也较差。有关两者的更多技术信息,可以参看:四类常见温度传感器的选型。

那么,RTD温度传感器在选型和应用时,有哪些注意事项呢?本文将做一个归纳。

材料

不是所有的金属都适合做成RTD,符合这一特性的材料需要满足如下几个要求:

  1. 该金属的阻值与温度呈线性关系;
  2. 该金属对温度的变化比较敏感,即单位温度变化引起的阻值变化(温度系数)比较大;
  3. 该金属能够抵抗温度变化造成的疲劳,具有好的耐久性;

满足这些要求的金属材料不多,常见的RTD材料有:铂(Pt)、镍(Ni)和铜(Cu)等。


图 1: 不同金属,阻值与温度关系,图片来源于TE (TE RTD)


阻值与温度的关系

一般来说,RTD阻值与温度成线性关系。这里需要关注两个参数: 0℃时电阻以及温度系数α。

  • 0℃时电阻

0℃时电阻,即0℃时RTD对应的阻值。结合材料与0℃时电阻,可分为Pt100、Pt200、Pt500和Pt1000等。比如:Pt100,表示该传感器在0℃下的电阻值为100Ω;而Pt1000,则表示该传感器在0℃下的电阻值为1000Ω 。

不同类型RTD对应温度范围,如下表所示:

(数据来源:ADI)


对于RTD阻值的测量,通常的做法是,给于RTD一个恒定的电流源,然后使用ADC来检测两端电压,从而得出该RTD阻值。也就是说,相同电流作用下,比起使用Pt100,使用Pt1000灵敏度将可以提高十倍,但同时ADC检测到的电压也会提高10倍。具体怎么选,我们还需要结合ADC等其他器件综合考量。

  • 温度系数α

RTD热电阻在不同温度下的阻值可以用公式:R= R0 (1+At)来近似计算。其中:

1)R0表示RTD在0℃下的电阻值;
2)A称为温度系数,表示单位温度下电阻的变化值;
3)t表示测量温度,单位为℃;

温度系数越大,代表传感器对温度越敏感。

对于Pt材料的RTD,要达到更精确的电阻温度拟合,可以参考DIN EN 60751公式:


当R0 = 100 Ω时:


工作温度范围与精度

一般原厂产品出厂,都会有校准温度(通常是0℃),随着温度的变化,离校准温度越远,公差变化越大。而精度是在某一温度范围内可以达到。我们在设计时,需要把这点考虑进去。

我们以TE NB-PTCO-011为例来说明:数据手册中给出,0.15%是在温度范围-30℃到300℃内实现的。

图2:精度对应温度范围 (资料来源:TE数据手册 )


RTD接线配置

市场上有三种不同的RTD布线配置(二线制,三线制,四线制)。

对于三线制和四线制,可以有效消除引线上电阻对于测量的影响。其原理是把测量回路和供电回路分开,测量回路中引线电流的小到忽略不计,从而有效消除引线上电阻对于测量的影响。

更多内容,请看下面帖子:阻值太低,无法测量?来试试开尔文测试吧。

二线制 三线制 四线制

图片来源:ADI

图片来源:ADI

图片来源:ADI
引线电阻对测量有影响 消除引线电阻影响 消除引线电阻影响
适用于精度要求不高,引线较短,传感器阻值比较高的情况,比如Pt1000 精度比两线制有很大的提高,需要三个接线端子 接口数变多,精度进一步提高,需要四个接线端子


RTD应用实例:比率测量

对于RTD, 比率配置是一种合适且经济高效的解决方案。我们使用四线制RTD作为一个例子进行说明。

下图红色箭头方向是激励源的电流路径,分别流经传感器电阻和一个精密的参考电阻。然后分别测量传感器电阻和参考电阻两端的电压。这么做的好处是,激励源不需要很精确,给予传感器电阻和参考电阻一个相同的电流,然后比较这两电阻的电压值。


图3:四线制RTD比率测量 (图片来源:ADI)


直接选用支持比率测量的ADC,比如ADI AD7124,是一个Σ-Δ ADC (Sigma-Delta),带有可编程增益放大器、激励源,可以大大简化RTD设计。

使用Σ-Δ ADC的另一个好处是,由于Σ-Δ ADC对模拟输入进行过采样,使得滤波器的设计大大简化,只需简单的单极RC滤波器即可。

国家电网也可能产生50Hz/60Hz及其倍数频率的噪声干扰。一些ADC会自带滤波器,比如ADI AD7124自带滤波器选项,可以针对50 Hz/60 Hz频率滤波,但该滤波会对ADC输出数据速度产生影响。

RTD的快速选型

通过Digi-Key网站中的产品参数筛选功能,可以快速搜索到我们设计所需的RTD及其相关产品。

Digi-Key提供了丰富的产品参数选项, 包括RTD的0℃时电阻、材料、温度系数、工作温度、精度等。


图4:Digi-Key的RTD参数选项


更多温度传感器相关的ADC的选择,可以在Digi-Key网站中【数据采集 – 模数转换器(ADC)】页面下的特性栏中选择“温度传感器特性”。


图5:Digi-Key温度传感器专用ADC

  • ADI RTD开发板
EVAL-AD7124-4SDZ EVAL-AD7124-8SDZ
1. 使用IC: AD7124-4
2. 24 位
3. 采样率19.2k
1. 使用IC: AD7124-8
2. 24 位
3. 采样率19.2k


这两块开发板支持连接母板EVAL-SDP-CB1Z,再通过USB连接到PC电脑,然后就可在PC电脑上进行控制以及数据分析。使用开发板可以让开发者更快上手,从而缩短研发时间。

本文小结

一个好的RTD温度传感器应用设计,往往需要整体考虑。不仅要留意RTD本身的材料、温度范围、精度等参数,还要根据测量方法,将周边器件(比如ADC)、接线配置等要素放在一起考虑。Digi-Key网站的参数筛选功能,可以帮助大家节省选型时间,事半功倍。


更多关于温度传感器的技术信息, 请点击以下链接查看,也欢迎大家在文末留言讨论。



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一周新品推荐:Murata MEMS表面贴装谐振器和STMicro高精度低功耗2轴数字倾角仪

本期Digi-Key Daily向大家推介两款产品——Murata 32.768kHz MEMS表面贴装谐振器和STMicro的IIS2ICLX二轴数字倾角仪。

产品一:Murata 32.768kHz MEMS表面贴装谐振器

谐振器就是指产生谐振频率的电子元件,在电子产品中的应用非常广泛。传统上,石英晶体谐振器和陶瓷谐振器是市场上的主流产品,而今天MEMS谐振器凭借诸多优势已经成为备受青睐的后起之秀。

Murata推出的32.768kHz MEMS SMD谐振器,就是其中一个性能表现非常出色的产品。这些MEMS谐振器有着出色的频率、精度和稳定的温度特性,同时与石英晶体共振器相比还具有非常低的ESR特性。

由于封装内未使用有机胶粘剂,该系列产品具有较高的可靠性,尤其是在高温条件下。此外,由于在芯片级封装中包含了振荡电路所需的负载电容,因而减少了振荡电路所需的空间,有助于进一步降低PCB的整体尺寸和成本。

总之,Murata的32.768kHz MEMS SMD谐振器性能优异,可靠性高,创新的设计可节省空间,同时还具有低功耗和低成本的优势,因此在工业设备和照明等需要高温、高可靠性的应用中十分适用。

了解 Murata 32.768 kHz MEMS SMD 谐振器的更多信息,请看以下视频:


产品二:STMicroelectronics的IIS2ICLX二轴数字倾角仪

在运动检测应用中,高精度和低功耗的加速度计必不可少。STMicroelectronics具有数字输出的IIS2ICLX就是能够满足这一设计要求的两轴线性加速度计。

IIS2ICLX的可选满量程为±0.5/±1/±2/±3g,并且能够通过I²C或SPI数字接口为主控制器提供测得的加速度数据。得益于高精度、高温度稳定性和可重复性等特点,IIS2ICLX特别适合于倾角测量应用(倾角仪)。

该器件在2轴全功能工作时电流仅为0.42mA,低功耗特性出众。IIS2ICLX的其他特点还包括超低噪声性能、高达3KB的智能嵌入式FIFO、可编程高通和低通数字滤波器、嵌入式温度传感器、有效收集外部传感器数据的传感器中枢,以及较宽的工作温度范围等。

了解STMicroelectronics IIS2ICLX二轴数字倾角仪更多信息,请看以下视频:




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电子元件的「生命周期」就是「寿命」吗?答案并非那么简单~


关键词: 质量

问:电子元件的 “生命周期”

电子元件的“生命周期”一词可以有不同的含义。如果你正在针对自己的项目而搜索元件生命周期,那么你需要知道“生命周期”的哪个含义与你的需求相关。

如果讨论的是物理耐久性和零件在系统中的预期使用寿命,那么“生命周期”可能是指产品的规格,如开关的机械寿命。它说明了在没有电力负载的情况下可进行的操作次数,这将是你选择零件的关键参数之一。

例如,来自E-Switch的TL3301AF260QG规定了100,000次的机械寿命。


有时,术语“生命周期”指的是元件的生产阶段。这表示产品所处的阶段(例如,发布、推广、成熟/活跃/生产中、准退市、淘汰/NRND/EOL和停产)。生产阶段生命周期是厂商根据零件的财务业绩及企业生产线的内部指标和要求做出的决定,一般来说,是诸如Digi-Key这样的代理公司无法预测的。

更多有关电子元件的技术信息, 请查看:



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