【描述】本文介绍了如何使用A-B-A交叉测试的方法，准确完成芯片或电路板的失效验证。
【摘要】本文介绍了如何使用A-B-A交叉测试的方法，准确完成芯片或电路板的失效验证。
问题1：怀疑芯片有质量问题，如何判断是芯片问题还是整块板子出问题？
关键词：芯片, 失效验证
DK工程师提议：
可以使用A-B-A交叉测试做失效验证： 这个方法用来调查出现的问题是否与PCB板上非原厂元器件相关。具体步骤：
1) 从最初失效的板子上卸下有问题的元器件（A）。
2) 使用一个好的元器件（B）来代替有问题的（A）,然后检查最初失效的板子是否工作正常。
3) 把有问题的元器件（A）装在一个已知好的板子上，然后检查失效是否随着有问题的元器件（A），在这个已知好的板子上也失效。这一步非常关键，需要排除被板子上其他元器件影响的可能性。
