#关键词: MLCC, 片式多层陶瓷电容, 陶瓷电容, 测试, 电容值
问：如何测量MLCC SMT电容的电容值
许多客户想要自己测试他们收到的片式多层陶瓷电容(MLCC)，以验证其电容值。但测试结果可能不尽人意，其原因可能有以下几点：
- 在测试中，未正确进行测量或未在指定的测量条件内进行测量。
- 测试中所用的仪表设置可能不正确，或者使用的测量设备不足以准确测量MLCC。
- 这些物料不应包含在所列的规格范围中——点击这里 获取更多信息。
以下是我们建议的测试步骤和检查清单，以帮助工程师明确他们在测量过程中需要注意的内容。
第 1 部分：测量要求
测量频率和电压对于正确测量陶瓷电容的值而言是非常重要的。请查看厂商和系列，并在规格书中找到你的电容，以确认所需的测量频率和电压。
[建议的检查清单]
- 测量频率：_______________________ Hz
- 测量电压：_______________________ V
第 2 部分：测量设备要求和设置
由于大多数万用表无法进行配置以满足某个电容的特定测量条件，因此通常使用LCR表来测量MLCC电容值。尽量使用测量夹具，以便在测量过程中保持样品的稳定性。然后打开LCR表的自动电平控制 (ALC) 功能。
图1. 打开ALC后，电压电平显示屏上就会出现“*”符号（了解为什么要打开ALC，点击这里）
[建议的检查清单]
- 是否使用夹具（是或否）：_______
- 是否打开自动电平控制（ALC）（是或否）：_______
第 3 部分：加热处理（去老化）
由于物理结构的原因，2类（高介电常数）MLCC电容值会随着时间的推移而逐渐减少。该属性称为电容的 “老化” 现象。这就是为什么客户有时会发现其电容的电容值低于对应的规格。一般来说，在150℃（+0/-10℃）下经加热处理（烘烤）1小时，并在室温下冷却24小时（+/-2小时）后，电容值可以恢复到所述规格。
因此在测量电容值之前，应在150℃+0/-10℃下加热电容1小时，并在环境空气中将其冷却24±2小时。（了解为什么只有2类电容需要去老化，可点击这里）
[建议的检查清单]
- 哪一类MLCC（1类-C0G或NP0/ 2类-除C0G或NP0以外的其他电容）：_______
- 该样品是否在150℃+0/-10℃下加热（烘烤）1小时，并在环境温度中保持冷却24±2小时？（是或否）：_______
更多电容相关的技术信息, 请参阅：
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